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Excellence in Scholarship

Excellence in Scholarship

von: Sivakumar Alagumalai, Stephanie Burley, John P. Keeves
Verlag:
Preis:
37,45 €
Format:
PDF
Sprache:
englisch

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Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars

Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars

von: Sivakumar Alagumalai, David D. Curtis, Njora Hungi
Verlag:
Preis:
213,99 €
Format:
PDF
Sprache:
englisch
Anzahl Seiten:
360

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